XGT型光譜中性衰減低透過率模擬儀器
一、用途：
按照J(rèn)JG536-2015《旋光儀與旋光糖量計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求，檢定自動旋光糖量計(jì)低透過率示值誤差和重復(fù)性時(shí)，對于確實(shí)無法采用機(jī)械斬波低透過率模擬器時(shí)，采用的透過率光譜中性衰減模擬器，為新增加配置的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器。
二、主要參數(shù)：
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬儀器
一、用途：
按照J(rèn)JG536-2015《旋光儀與旋光糖量計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求，檢定自動旋光糖量計(jì)低透過率示值誤差和重復(fù)性時(shí)，對于確實(shí)無法采用機(jī)械斬波低透過率模擬器時(shí)，采用的透過率光譜中性衰減模擬器，為新增加配置的計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器。
二、主要參數(shù)：
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
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