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GXF-215B 數(shù)顯式硅酸根分析儀器 行業(yè)專用儀表

GXF-215B 數(shù)顯式硅酸根分析儀器 行業(yè)專用儀表

簡(jiǎn)要描述：
GXF-215B 數(shù)顯式硅酸根分析儀器
測(cè)量范圍0~50.0μg/LsiO2
基本誤差≤±2.0μg/L

更新時(shí)間：2023-11-12

訪問(wèn)量：407

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

GXF-215B 數(shù)顯式硅酸根分析儀器


測(cè)量范圍0~50.0μg/LsiO2
基本誤差≤±2.0μg/L
重復(fù)性誤差≤±0.2μg/L
短期漂移（30分鐘）≤±0.2μg/L
長(zhǎng)期漂移（24小時(shí)）≤±2.0μg/L
化學(xué)方法硅鉬蘭光度法GB 12150—89

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GXF-215B 數(shù)顯式硅酸根分析儀器

測(cè)量范圍0~50.0μg/LsiO2
基本誤差≤±2.0μg/L
重復(fù)性誤差≤±0.2μg/L
短期漂移（30分鐘）≤±0.2μg/L
長(zhǎng)期漂移（24小時(shí)）≤±2.0μg/L
化學(xué)方法硅鉬蘭光度法GB 12150—89

GXF-215B 數(shù)顯式硅酸根分析儀器


測(cè)量范圍0~50.0μg/LsiO2
基本誤差≤±2.0μg/L
重復(fù)性誤差≤±0.2μg/L
短期漂移（30分鐘）≤±0.2μg/L
長(zhǎng)期漂移（24小時(shí)）≤±2.0μg/L
化學(xué)方法硅鉬蘭光度法GB 12150—89

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